Прибор (тестер) Маркуса на Atmega328 для проверки транзисторов, диодов, тиристоров, резисторов, индуктивностей и конденсаторов. Графический дисплей

1,700.00

Нет в наличии

Описание

Прибор (тестер) Маркуса на Atmega328 для проверки транзисторов, диодов, тиристоров, резисторов, индуктивностей и конденсаторов. Графический дисплей

Улучшенная версия с графическим индикатором

Без корпуса

Полная технологическая документация

 

Полностью рабочая заготовка для изготовления многофункционального прибора.
Изготовление подразумевает запихивание этого девайса в подходящий корпус и оснащение тремя проводами с удобными наконечниками типа крокодил.
Питание от 1й батарейки типа Крона. (9V)
Есть площадки для прикладывания прижимания СМД компонентов разного размера.
И так, что умеет. (вся информация выводится на ЖКИ индикатор типа 12864)
1. Сопротивление резисторов.
2. Емкость конденсаторов.
3. Индуктивность индуктивностей :)
4. Определение типа подключенного транзистора и автоматическое распознавание эмиттера, коллектора, базы или стока, истока затвора.
Индикация коэффициента усиления, типа проводимости (NPN, PNP, N или P канал) другие параметры транзистора в зависимости от типа.
5. Определение типа триак – тиристор и расположения выводов

Характеристики.

1. Работает с микроконтроллерами ATmega8, ATmega168 или ATmega328. Эта версия на ATmega328

2. Отображение результатов на LCD-дисплее 128×64 

3. Запуск – однократное нажатие кнопки TEST с автоотключением.

4. Возможна работа от автономного источника, т.к. ток потребления в выключенном состоянии не превышает 20 нА.

5. Чтобы уменьшить ток потребления в режиме ожидания измерения, программное обеспечение, начиная с версии 1.05k, использует режим сна (Sleep Mode) для микроконтроллеров Atmega168 или ATmega328.

6. Автоматическое определение N-P-N и P-N-P биполярных транзисторов, N– и Pканальных MOSFET транзисторов, JFET транзисторов, диодов, двойных диодов, тиристоров и симисторов.

7. Автоматическое определение расположения выводов элемента.

8. Измерение коэффициента усиления и порогового напряжения база эмиттер биполярного транзистора.

9. Транзисторы Дарлингтона идентифицируются по пороговому напряжению и коэффициенту усиления.

10. Обнаружение защитного диода в биполярных и MOSFET транзисторах.

11. Измерение порогового напряжения затвора и величины ёмкости затвора MOSFET.

12. Измерение одного или двух резисторов с изображением символа резистора и точностью до 4 десятичных цифр. Все символы пронумерованы соответственно номерам щупов Тестера (1-2-3). Таким образом, потенциометр также может быть измерен.

13. Разрешение измерения сопротивления до 0.01 Ом, а величина измерения – до 50 МОм.

14. Определение и измерение одного конденсатора с изображением символа конденсатора и точностью до четырех десятичных цифр. Ёмкость конденсатора может быть замерена от 25 пФ (8 МГц, 50 пФ1 МГц) до 100 мФ. Разрешение измерения составляет 1 пФ (8 МГц).

15. ESR конденсатора измеряется с разрешением 0.01 Ом для конденсаторов ёмкостью более 0.18 мкФ и отображается числом с двумя значащими десятичными цифрами. Это возможно только для ATmega168 или ATmega328.

16. Для конденсаторов ёмкостью выше 5000 пФ может быть определена потеря напряжения после воздействия импульса зарядки. Потеря напряжения дает оценку добротности (качества) конденсатора.

17. Определение до двух диодов с изображением их символов в правильном порядке. Дополнительно отображается прямое падение напряжения на диоде.

18 Светодиод (LED) определяется как диод с прямым напряжением выше, чем у обычного диода. Два светодиода в одном 3-х выводном корпусе также определяются, как два диода.

19. Стабилитроны могут быть определены, если их обратное напряжение пробоя ниже 4.5 В. Они отображаются, как два диода, и могут быть идентифицированы, как стабилитроны, только по напряжению. Номера выводов, соответствующие символу диода, в этом случае, идентичны. Реальный вывод анода диода можно идентифицировать только по падению напряжения (около 700 мВ)!

20. Если определяется более чем 3 диода, число диодов отображается дополнительно с сообщением о том, что элемент повреждён. Это может произойти, только если диоды присоединены ко всем трем выводам, и, по крайней мере, один из диодов – стабилитрон. В этом случае необходимо произвести измерения, подсоединив к двум щупам Тестера сначала одну пару из трех выводов элемента, затем – любую другую пару выводов элемента.

21. Измерение величины ёмкости одиночного диода в обратном направлении. Биполярный транзистор может также быть проанализирован, если подключить базу и коллектор или базу и эмиттер.

22. Одним измерением можно определить назначение выводов выпрямительного моста.

23. Конденсаторы ёмкостью ниже 25 пФ обычно не определяются, но могут быть измерены вместе с параллельным диодом или параллельным конденсатором, ёмкостью более 25 пФ. В этом случае из результата измерения необходимо вычесть ёмкость подключенного параллельно элемента.

24. Для резисторов сопротивлением ниже 2100 Ом измеряется индуктивность (только для ATmega168 или ATmega328). Диапазон измерений от 0.01 мГн до 20 Гн, но точность не высока. Получить результат измерения можно только с единственным подключенным элементом.

25. Время тестирования большинства элементов составляет приблизительно 2 секунды. Измерение ёмкости или индуктивности могут увеличить время тестирования.

26. Программное обеспечение может конфигурироваться, чтобы произвести ряд измерений прежде, чем питание будет отключено.

27. В функции самопроверки встроен дополнительный генератор частоты на 50 Гц, чтобы проверить точность тактовой частоты (только ATmega168 и ATmega328).

28. Подключаемое, в режиме самопроверки, оборудование для тарировки внутреннего выходного сопротивления порта и смещения нуля при измерении ёмкости (только ATmega168 и ATmega328). Для тарировки необходимо подключить к щупам 1 и 3 внешний высококачественный конденсатор ёмкостью между 100 нФ и 20 мкФ, чтобы измерить величину компенсации напряжения смещения аналогового компаратора. Это уменьшит ошибки измерения ёмкости конденсаторов до 40 мкФ. Этот же конденсатор применяется при коррекции напряжения внутреннего ИОН, замеренного для подстройки масштаба АЦП при измерении с внутренним ИОН.

Тиристоры и симисторы могут быть обнаружены, если испытательный ток выше тока удержания. Некоторые тиристоры и симисторы нуждаются в более высоких токах, чем этот Тестер может обеспечить. Доступный ток тестирования только 6 мА! Заметьте, что многие дополнительные функции могут быть использованы только с ATmega168 и ATmega328.

Внимание: Перед подключением убедитесь, что конденсаторы разряжены! Тестер может быть повреждён и в выключенном состоянии. Есть только небольшая защита в портах ATmega.

Если требуется проверить элементы, установленные в схеме, то оборудование должно быть отсоединено от источника питания, и должна быть полная уверенность, что остаточное напряжение отсутствует в оборудовании. 

Отзывы

Отзывов пока нет.

Будьте первым, кто оставил отзыв на “Прибор (тестер) Маркуса на Atmega328 для проверки транзисторов, диодов, тиристоров, резисторов, индуктивностей и конденсаторов. Графический дисплей”